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| 英文缩写 |
PIV |
| 英文全称 |
Particle Image Velocimetry |
| 中文解释 |
粒子图像测速技术 |
| 缩写分类 |
化学化工 数学物理 |
| 缩写简介 |
粒子图像测速技术(Particle Image Velocimetry,简称PIV)以其非接触式,全流场,瞬态测量等特点,从八十年代初出现至今,得到了迅速的普及和推广,在实验设备,数据采集方法,技术应用范围等方面都有巨大的进步.典型的PIV系统的设备包括:Nd:YAG激光器作为光源,CCD(Charge-coupled Devices,电荷耦合器件)相机作为粒子图像记录设备,同步器用于控制激光器发射脉冲和CCD拍摄的同步工作.PIV技术的基本原理是:人为地在被测流场中撒播浓度适当的示踪粒子,用双脉冲激光片光照亮被测流场,同时用像机记录粒子两次被照亮时反射光产生的像.同一粒子两次图像之间的距离就是在两个激光脉冲时间间隔内该粒子移动的距离,这一距离除以脉冲间隔的时间就得到了该粒子的移动速度在片光平面内的速度分量.当粒子的跟随性(跟随流体一起运动的能力)比较好时,粒子的速度分量就约等于该处流体的运动速度分量.这样就得到了流场中各个点的流动速度.PIV测量中最经常遇到的两个问题是:粒子分布的均匀性和足够的浓度,以及流场中的反光对于CCD相机的损伤.粒子浓度不足或浓度分布不均匀就会导致流场中某些位置的速度无法测得.CCD的光学敏感元件很容易被强的反光烧坏.这些问题的解决需要在具体实验中逐步摸索.
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